芯片EMC的電路設計和測試
電磁兼容測試的電路設計和器件選擇方面還是非常重視的，一般在一個新的項目開發(fā)之前就要做好這方面的準備。所謂EMC就是：設備或體系在其電磁環(huán)境中能正常作業(yè)，且不對該環(huán)境中任何事物構成不能承受的電磁打擾的才能。

EMC測驗包含兩大方面內容：對其向外界發(fā)送的電磁打擾強度進行測驗，以便承認是否契合有關規(guī)范規(guī)則的約束值要求；對其在規(guī)則電磁打擾強度的電磁環(huán)境條件下進行敏感度測驗，以便承認是否契合有關規(guī)范規(guī)則的抗擾度要求。關于從事單片機使用體系規(guī)劃的工程技術人員來說，把握必定的EMC測驗技術是十分必要的。能否以較低的成本得到EMC認可，減少產品因外界原因帶來的成本和重量，在正確選擇器件以及完善電路設計方面是非常重要的一部分。

這些電路設計不僅可以提高完整的數字信號，還可以減少重復使用硬件的頻率，終將有利于新研發(fā)的產品達到技術要求盡快投入到市場中去。

下面先來看下單片機系統(tǒng)EMC的測試，要確保測試結果的相對穩(wěn)定可靠，對測試環(huán)境的要求也是非常高的，在對電磁兼容測試時，選擇的測試場地要有室外的開闊場地和室內的屏蔽室等等。

然后就是測試設備的選擇，電磁兼容測試的設備可分為兩類，一類室電磁干擾測試設備，當這種設備連接上合適的傳感器，就能減少對測試結果的干擾；另一種是在電磁敏感度測量，設備模擬不同干擾源，通過適當的耦合/去耦網絡、傳感器或天線，施加于各類被測設備，用作敏感度或干擾度測量。

后就要根據電磁兼容性測試依據標準的不同，來尋找測量的方法，測量方法歸納起來可分為4類；傳導發(fā)射測試、輻射發(fā)射測試、傳導敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度）測試。